Noise Effects on Performance of Low Power Design Schemes in Deep Submicron Regime مؤلف البحث M. Abbas, M. Ikeda and K. Asada قسم البحث الهندسة الكهربائية مجلة البحث the 19th IEEE Int. Symp. On Defect and Fault Tolerance in VLSI, France, Cannes مؤلف البحث Mohammed Abbas Abdelrady Abdelhamed سنة البحث 2004
