Statistical Model for Logic Errors in CMOS Digital Circuits for Reliability-Driven Design Flow | كلية الهندسة

كلية الهندسة

مؤلف البحث

M. Abbas, M. Ikeda and K. Asada

قسم البحث

الهندسة الكهربائية

مجلة البحث

Proceedings of DDECS06, Czech Republic, Prague

مؤلف البحث

Mohammed Abbas Abdelrady Abdelhamed

سنة البحث

2006