Study of Tunneling Current Through Ultra-thin Gate Oxide MOSFET and its Effect on CMOS Circuits مؤلف البحث M.A.Sayed and M.Atef قسم البحث الهندسة الكهربائية مجلة البحث JOURNAL OF ENGINEERING SCIENCES مؤلف البحث Mohamed Atef Elsayed Abdelaal تصنيف البحث 2 سنة البحث 2005
