تجاوز إلى المحتوى الرئيسي

Determination of the optical constants of As–Se–Ag chalcogenide thick films with high precision for optoelectronics applications

ملخص البحث

NULL

مؤلف البحث
ER Shaaban, Mohamed N Abd-el Salam, M Mohamed, MA Abdel-Rahim, AY Abdel-Latief
قسم البحث
مجلة البحث
Journal of Materials Science: Materials in Electronics
صفحات البحث
13379-13390
الناشر
Springer US
تصنيف البحث
1
عدد البحث
28(18)
موقع البحث
NULL
سنة البحث
2017